仁昊工程師指出，SEM是提供一個“頻譜模版”，然后在測量發(fā)射機帶內(nèi)頻譜泄漏的時候，看有沒有超出模版限值的點。可以說它與ACLR有關系，但是又不相同：ACLR是考慮泄漏到鄰近信道中的平均功率，所以它以信道帶寬為測量帶寬，它體現(xiàn)的是發(fā)射機在鄰近信道內(nèi)的“噪聲底”;SEM反映的是以較小的測量帶寬(往往100kHz到1MHz)捕捉在鄰近頻段內(nèi)的超標點，體現(xiàn)的是“以噪聲底為基礎的雜散發(fā)射”。

如果用頻譜儀掃描SEM，可以看到鄰信道上的雜散點會普遍的高出ACLR均值，所以如果ACLR指標本身沒有余量，SEM就很容易超標。反之SEM超標并不一定意味著ACLR不良，有一種常見的現(xiàn)象就是有LO的雜散或者某個時鐘與LO調(diào)制分量(往往帶寬很窄，類似點頻)串入發(fā)射機鏈路，這時候即便ACLR很好，SEM也可能超標。

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