如果您經(jīng)常采購射頻接插件相關(guān)的產(chǎn)品，那么對于N型接插件應(yīng)該不會陌生。當(dāng)談起N型接插件時，我們首先要注意它是一個“帶內(nèi)指標(biāo)”，要與spurious emission區(qū)分開來，后者在廣義上是包含了SEM的，但是著重看的其實是發(fā)射機工作頻段之外的頻譜泄漏，其引入也更多的是從EMC(電磁兼容)的角度。那么到底N型射頻接插件SEM是什么意思，下面聽聽仁昊偉業(yè)科技工程師為我們講解一下N型射頻接插件SEM相關(guān)的知識。

仁昊工程師指出，SEM是提供一個“頻譜模版”，然后在測量發(fā)射機帶內(nèi)頻譜泄漏的時候，看有沒有超出模版限值的點。可以說它與ACLR有關(guān)系，但是又不相同：ACLR是考慮泄漏到鄰近信道中的平均功率，所以它以信道帶寬為測量帶寬，它體現(xiàn)的是發(fā)射機在鄰近信道內(nèi)的“噪聲底”;SEM反映的是以較小的測量帶寬(往往100kHz到1MHz)捕捉在鄰近頻段內(nèi)的超標(biāo)點，體現(xiàn)的是“以噪聲底為基礎(chǔ)的雜散發(fā)射”。

如果用頻譜儀掃描SEM，可以看到鄰信道上的雜散點會普遍的高出ACLR均值，所以如果ACLR指標(biāo)本身沒有余量，SEM就很容易超標(biāo)。反之SEM超標(biāo)并不一定意味著ACLR不良，有一種常見的現(xiàn)象就是有LO的雜散或者某個時鐘與LO調(diào)制分量(往往帶寬很窄，類似點頻)串入發(fā)射機鏈路，這時候即便ACLR很好，SEM也可能超標(biāo)。

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